晶闸管散热器光纤测温 晶闸管测温装置 荧光光纤传感器

晶闸管是什么

晶体闸流管简称晶闸管，亦叫可控硅(SCR)器件或半导体闸流 管。在应用过程中它能承受的最大通态电流，受运行情况和通风散 热等因素的制约。晶闸管在导通状态下内部会发生热损耗，热损耗 的发生直接导致器件结温升高。当结温升高到超过额定结温时，晶 闸管的转折电压急剧下降，由此使得阻断和反向状态下的漏电流急 剧增加，器件阻断能力下降，甚至造成器件损坏，因此能及时准确 地监控大功率晶体闸流管工作的温度显得尤为重要。

晶闸管测温方式有哪些

1、传统的晶闸管测温是分为接触式和非接触式，其中接触式采用铂电阻或热电偶方式，均是采用电信号测量、传输，传输介质导线为金属，在强电磁场作用下，极易被干扰，无法正确测量，且金属 物质在强电、磁场作用下易产生电弧、电晕、发热等问题，造成较 大的危害，较难达到晶闸管安全、准确、及时测温的需求；其中， 非接触式为红外测温等感应式测温形式，这种方式的可靠性、稳定 性、准确性较低，也无法满足晶闸管温度监控的需求。

2、荧光光纤测温，光纤光信号传输，能抗电磁干扰，在 工作环境存在强电场和强磁场辐射环境下也能正常工作不受干扰， 接触式测温，并且是通过测量荧光余辉寿命的时间常数，就可以得知当时的环境温度，即为晶闸管工作的温度，测温准确，且测温速度和精度均大大高于电器类测温和其他光纤测温技术。具有抗电磁干扰、稳定可靠、微小尺寸、高 精度、长寿命及绝缘性好等特点。

光纤测温原理

荧光体在受一定波长(受激谱)的光激励后，受激辐射出荧光能量。激励消失后，荧光体发光的持续性即荧光余辉取决于荧光物质特性、环境温度，以及激发状态。这种受激荧光通常是按指数方式衰减的， 称衰减的时间常数为荧光余辉寿命或荧光衰落时间(ns)。因为在不同的环境温度下，荧光余辉寿命不同，通过测量荧光余辉寿命的时间常数，就可以得知当时的环境温度，即为晶闸管工作的温度。